Centro Nacional de Metrología (CENAM)
Investigadores
- Carlos A. Galván
- Carlos Colín Castellanos
- Estela Ramírez Maldonado
- Fernando Rosas Gutiérrez
- Froylán Martínez Suarez
- Horacio Estrada Vázquez
- José Antonio Salas Téllez
- José Antonio Salas Téllez
- José Luis Cabrera Torres
- José Manuel Juárez García
- Juan Antonio Guardado Pérez
- Marcos Mendoza
- Miguel Viliesid Alonso
- Miguel Viliesid Alonso
- Norma González Rojano
- Norma González Rojano
- Rubén J. Lazos Martínez
Técnicos
- Armando López
- Eduardo Herrera
- Fernando Rosas Gutiérrez
- José Luis Cabrera Torres
- José Manuel Juárez García
Equipo disponible
- Accusizer 780A
- Análizador de distribución de tamaño de partÃcula Malvern Mastersizer X
- Análizador de tamaño de partÃcula Accusizer 780A
- Difractómetro óptico
- Difractómetro de rayos X modelo D500 marca SIEMENS. Tubos de rayos X de Fe Co Ti W y Cu.
- EDS y WDS JEOL JXA-8200
- JEOL JSM-6390LV
- Malvern Mastersizer X
- Microscopio óptico de polarización Olympus BX50
- Microscopio óptico metalográfico Olympus PMG3
- Microscopio de fuerza atómica JEOL modelo JSPM-5200
- Microscopio de barrido JEOL modelo JSPM-5400
- Microscopio de barrido con electrones en bajo vacÃo JEOL JSM-6390LV
- Microscopio Olympus BX50
- Microscopio Olympus PMG3
- Microsonda analÃtica (EPMA) EDS y WDS JEOL JXA-8200
- Zetasizer Nano-S* modelo ZEN1600 marca Malvern Instruments Ltd.
