Investigadores

• Ana María Martínez Vázquez
• Ana María Martínez Vázquez
• Armando Ortiz Rebollo
• Betsabee Monroy Pelaez
• Betsabee Monroy Pelaez
• Chumin Wang Chen
• Chumin Wang Chen
• Cristina Piña Barba
• Doroteo Mendoza López
• Doroteo Mendoza López
• Elizabeth Chavira Martínez
• Francisco Morales Leal
• Francisco Morales Leal
• Gabriel Torres Villaseñor
• Guillermo Santana Rodriguez
• Heriberto Pfeieffer
• Ignacio Alejandro Figueroa Vargas
• Ilya Kaplan Savitsky
• Ilya Kaplan Savitsky
• Jorge Balmaseda Era
• Jorge Balmaseda Era
• José Álvaro Chávez Carvayar
• José Alvaro Chávez Carvayar
• José Gonzalo González Reyes
• José Gonzalo González Reyes
• José Israel Betancourt Reyes
• José Israel Betancourt Reyes
• José Luis Rivera Rojas
• Juan Carlos Alonso Huitrón
• Julio Juárez Islas
• Larissa Alexandrova Zarubina
• Lioudmila Fomina
• Luis Enrique Sansores Cuevas
• Luis Enrique Sansores Cuevas
• Luis Felipe del Castillo Dávila
• Ma. Elena Villafuerte Castrejón
• Ma. Elena Villafuerte Castrejón
• Marcela Beltrán Sánchez
• Marcela R.Beltrán Sánchez
• Mirna Rosa Estrada Yáñez
• Mirna Rosa Estrada Yañez
• Monserrat Bizarro Sordo
• Moukhamed Tlenkopatchev
• Octavio Álvarez Fragoso
• Octavio Manero Brito
• Octavio Manero Brito
• Oracio Navarro Chávez
• Patricia Guadarrama Acosta
• Patricia Guadarrama Acosta
• Raúl Valenzuela Monjarás
• Raúl Valenzuela Monjarás
• Ricardo Vera Graziano
• Roberto Escudero Derat
• Roberto Escudero Derat
• Roberto Salcedo Pintos
• Sandra Rodil Posada
• Sandra Rodil Posada
• Serguei Fomine
• Stephen Muhl Saunders
• Stephen Muhl Saunders
• Takeshi Ogawa Murata
• Takeshi Ogawa Murata

Técnicos

• Sebastián López Romero

Equipo disponible

• Analizador de espectro óptico Agilent 86140B
• Analizador de impedancias Agilent 4294A
• Analizador de impedancias Solatron 1260A
• Analizador Termogravimétrico TGA TA Q5000IR
• Analizador Termomecánico TMA TA Q400EM
• Análisis de superficies (XPS UPS SAM SEM AES Perfiles de profundidad XPS y AES)
• Análisis Dieléctrico DEA Dupont Intruments 2970
• Análisis Dinámico y Mecánico (DMA) T. A. Instruments DMA Q800
• Análisis térmico DTA/DSC T. A. Instruments DSC 2910
• Análisis Termomecánico TMA TA Instruments 2940
• Bruker Advance 400 con campo magnético de 9.395 T
• Calorímetro diferencial de barrido (DSC) TA Instruments Q100
• Calorímetro Diferencial de Barrido y Análisis Termogravimétrico (DSC/TGA) TA Instruments SDT Q600
• Cámara salina Weiss Technik SSC-Control 208253/8/0001
• Cromatógrafo de gases Shimadzu GC-2010 AF 11 5V
• Cromatógrafo de gases Shimadzu GC8A
• Cromatógrafo de gases-masa Shimadzu GCMS-QP2010
• Cromatógrafo de Permeación en Gel (GPC) Waters 2695-WAT270886
• Cromatógrafo de Permeación en Gel (GPC) Waters 150 C ALC/GPC
• Cromatógrafo de permeación en gel (GPC) Waters 510 B
• Desgastador iónico Gatan 691
• Detector de índice de refracción Wyatt Tecnology Optilab Rex WREX-06
• Difractómetro de Rayos X Bruker-AXSD8-Adv
• Difractómetro de Rayos X Siemens D500
• Difractómetro de Rayos X Siemens D5000
• Durómetro Misawa Seiki Seisakusho 3R
• Durómetro Mitutoyo 811-335
• Electroabsorción Instruments Group CM110
• Elipsómetro espectroscópico
• Equipo para Conductividad Térmica Dynatech R/D Company Rapid K
• Equipo para solidificación ultrarápida de aleaciones
• Espectrofotómetro de Flourescencia
• Espectrofotómetro FT-IR Thermo Fisher Scientific Nicolet 6700 FT-IR
• Espectrofotómetro IR con tranformadas de Fourier
• Espectrofotómetro Ultravioleta - visible Shimadzu UV260
• Evaporadora Jeol Fine Coat
• Extrusor Haake Rheocord Torque Rheometer EV-3V
• FIB Modelo JEM-9320
• Horno de inducción de radiofrecuencia con campana de atmósfera inerte Elektro-Maschinen KG EMA
• Impactómetro Shimadzu CH
• Intemperómetro para simulación acelerada de condiciones ambientales (luz ultravioleta humedad lluvia temperatura) que degradan y aceler
• Inyectora de plásticos para laboratorio Demag Ergotech 50-200 Compact
• Magnetómetro de Muestra Vibrante LDJ 9600 con campo magnético máximo de 1.5 Teslas
• Magnetómetro SQUID MPMS-5 con campo magnético máximo de 5 Teslas
• Máquina universal de pruebas mecánicas Instron 1125
• Máquina universal de pruebas mecánicas Instron 5500 R
• Máquina universal de pruebas mecánicas Instron 8802
• Medidor de superficie y analizador de porosidad Micromeritics SAP2020
• Microdurómetro Shimadzu Tester M
• Microscopio óptico de doble visor Invert Scope SIPH
• Microscopio de Barrido Modelo JSM-7600F
• Microscopio de Fuerza Atómica JEOL JSPM-4210
• Microscopio Electrónico de Barrido StereoScan 440
• Microscopio Electrónico de Transmisión JEM-1200X
• Microtomo Leica RM2125RT
• Molino Attritor Union Process
• Molino de bolas Glen Mills Inc PM 100
• Molino de laminación Fenn Amca International 5 Mill
• Nanovólmetro/Micrómetro
• Pastilladora Buehler Simplimet 2000
• Potenciostato/Galvanostato Princeton Applied Research VMP3
• Reómetro de esfuerzo controlado con cámara de alta temperatura T. A. Instruments ETCST-A
• Reómetro de esfuerzo controlado Rheometric Scientific Ares
• Recubrimientos Metálicos Sulzer Metco Roadrunner
• Refractómetro Fisher Scientific Co
• Sistema de medición de electrolumuniscencia y fotoluminiscencia
• Sistema de medición de propiedades físicas Quantum Design PPMS
• Sputtering (rociado espurreo)
• Sputtering (rociado espurreo)
• Termobalanza TA Instruments TGA 2950
• Ultra - microdurómetro
• Ultramicrotomo Hacker Instruments 700121
• Ultrapicnómetro Quantachrome Instuments 1000 UPY-14