Investigadores

• Alejandro Lopez Ortiz
• Alfredo Aguilar Elguézabal
• Alfredo Lucero Marquez
• Ana Maria Arizmendi Morquecho
• Daniel Glossman Mitnik
• Eduardo Herrera Peraza
• Eduardo Martínez Guerra
• Erasmo Orrantia Borunda
• Francisco Espinosa M.
• Ivanovich Estrada Guel
• Jesús González Hernández
• José andrés Matutes Aquino
• José Bonilla Cruz
• José Martín Herrera Ramírez
• Liliana Licea Jiménez
• Luis E Fuentes Cobas
• María Elena Montero Cabrera
• Miguel Angel Neri Flores
• Norma Flores Holguin
• Rigoberto Ibarra Gómez
• Roberto Martinez Sanchez
• Sergio Alfonso Pérez García

Técnicos

• Carlos E. Ornelas Gutiérrez
• Carlos Roberto Santillán Rodríguez
• Claudia Hernández Escobar
• Enrique Torres Moye
• Erika I. López Martínez
• Francisco Paraguay Delgado
• Hilda Esparza Ponce
• Luis de la Torre Sáenz
• Manuel Román Aguirre
• Mario Sanchez Vazquez
• Martha Teresita Ochoa Lara
• Miguel Orozco Alvarado
• Mónica Mendoza Duarte
• Oscar Omar Solís Canto
• Virginia Collins Martínez
• Wilber Antunez Flores

Equipo disponible

• Analizador simultáneo TGA-DTA
• Analizador térmico diferencial DTA de 1600°C
• Analizador Termogravimétrico TGA automuestreador
• Analizador Termomecánico TMA
• Difractómetro de Rayos-X
• Difractómetro de Rayos-X
• Difractómetro de Rayos-X
• Equipo de Temple giratorio (melt spinner) para la fabricación de cintas nanocristalinas y amorfas
• Equipo de calorimetría diferencial de barrido
• Equipo de calorimetría diferencial de barrido DSC
• Equipo de Deposición por Erosión Catódica (Sputtering)
• Equipo de Haz de Iones Focalizados
• Espectrómetro de Microfluorescencia de Rayos-X
• Espectrómetro Mössbauer con fuente de Co57 en matriz de Rodio, actividad inicial 50 mCi
• Espectrómetro Mössbauer con fuente de Co57 en matriz de Rodio, actividad inicial 50 mCi
• Gaussímetro Walter Scientific MG-3D
• Horno de Arco para la fabricación de aleaciones metálicas
• Magnetómetro de campos magnéticos pulsados 20 Tesla (77 K-300 K)
• Magnetómetro de Muestra Vibrante
• Microscopio de Fuerza Atómica
• Microscopio Electrónico de Barrido
• Microscopio Electrónico de Barrido
• Microscopio Electrónico de Barrido
• Microscopio Electrónico de Transmisión
• Microscopio Electrónico de Transmisión
• Microscopio Electrónico de Transmisión de Emisión de Campo, JEM-2200FS
• Susceptómetro de corriente alterna